Il FE-SEM presente in CREA è uno degli strumenti attualmente qualificato per l’analisi e il riconoscimento delle fibre di amianto disperse in atmosfera e del contenuto di amianto in matrici solide (i.e. Eternit, materiali edili, suoli, rifiuti).
DESCRIZIONE GENERALE
Il microscopio a scansione elettroni ad emissione di campo è una strumentale di altissimo livello e di ottima qualità. Fornisce un’analisi morfologica di superficie di campioni o matrici in stato solido (tal e quali, secchi o congelati) sfruttando un fascio di elettroni come sorgente. Quest’ultima è ad effetto di campo (Field Emission) permettendo di aumentare l’intensità del flusso di elettroni che incide sulla superficie, arrivando a una risoluzione dell’ ordine di dieci nanometri. Grazie alla presenza del detector a diffrazione a raggi X è possibile ottenere un’ analisi semi-quantitativa elementare dei campioni e la mappatura chimica degli elementi. Il FESEM rappresenta lo stato dell’arte nella caratterizzazione dei materiali ma è anche un’ottima strumentazione per l’analisi del particolato atmosferico precedentemente raccolto su di un filtro. I materiali indagabili includono metalli, cristalli, polimeri e tessuti molli, lavorando a pressione variabile su campioni non conduttivi non metallizzati, impossibile con un microscopio a scansione elettronico convenzionale. Il FE-SEM viene utilizzato anche in campo archeologico e di beni culturali, analizzando la morfologia e la composizione chimica di quadri, reperti e/o manufatti. Inoltre, attraverso la microscopia elettronica, è possibile studiare la morfologia e la struttura di molti materiali biologici quali colture cellulari, microorganismi, tessuti biologici, liposomi, materiali ossei o dentari.
APPLICAZIONI
Il FE-SEM non è uno strumento legato ad una singola e specifica ricerca, ma è concretamente interdisciplinare e particolarmente attrattivo per ricercatori ed aziende interessati a caratterizzare e /o fabbricare differenti tipi di materiali. Infatti le sue applicazioni si stanno estendendo dalla ricerca e sviluppo al controllo di qualità e all’ispezione dei prodotti negli impianti di produzione.
In particolare i vari campi di applicazione della microscopia elettronica sono:
- NANOTECNOLOGIA
- METALLI
- POLIMERI
- SEMICONDUTTORI
- CERAMICHE
- GEOLOGIA
- ARCHEOLOGIA
- MEDICINA
- BIOLOGIA
- BIOINGEGNERIA
- FARMACEUTICO
- INDAGINI FORENSI
Scarica il PDF della Brochure del FE-SEM di CREA sotto illustrata.
FESEM_Componenti e Funzionalità
FESEM_Esempi Applicativi_parte 1
FESEM_Esempi Applicativi_ parte 2
FESEM_Esempi Applicativi_parte 3_ Conclusioni
